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v 應(yīng)用方向:Ga2O3,GaN, InP, GaAs, InSb, GaInNAs, II-VI等等
v 從研發(fā)到大規(guī)模生產(chǎn)
v 襯底尺寸:3x2 inch、1x4 inch、1x3 inch、1x2 inch
通過載波交換實(shí)現(xiàn):6 x 2 inch、3 x 3 inch、1 x 6 inch
v Ga2O3薄膜生長速率:>3um/h
v Ga2O3薄膜表面粗糙度:5umx5um范圍由AFM在Ga2O3襯底上測量 ≤1.0 nm
v 加熱系統(tǒng):采用鎢絲加熱,三溫區(qū)控制,溫度至1400℃
v 反應(yīng)腔室內(nèi)托盤與噴淋頭間距可調(diào)(范圍覆蓋5 mm至25 mm)
v 工藝過程中,具有實(shí)時(shí)晶圓表面溫度和晶圓翹曲度監(jiān)測功能
v 搭載溫度監(jiān)測系統(tǒng),可實(shí)時(shí)掃描晶圓溫度mapping圖